Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

ЭБС "IPRBOOKS" - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

ЭБС "IPRBOOKS"

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :1

В других БД по вашему запросу найдено:

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: <.>A=Анашина, $<.>

Общее количество найденных документов : 1

Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / О. Д. Анашина [и др.]. - Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии, 2021-04-20. - Москва : Логос, 2011. - 591 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : Б. ц.
Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.

УДК

006

ББК 30.10

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнология -- метрология -- наноиндустрия -- метрологическое обеспечение
Аннотация: Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологии и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008–2011 годы». Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологии и нанометрологии.
Перейти к внешнему ресурсу Перейти к просмотру издания

Доп. точки доступа:
Анашина, О. Д.
Андрюшечкин, С. Е.
Аневский, С. И.
Бражников, В. В.
Булыгин, Ф. В.
Головань, Л. А.
Горшкова, Т. Б.
Гусев, А. С.
Демин, А. В.
Заботнов, С. В.
Золотаревский, С. Ю.
Золотаревский, Ю. М.
Иванов, В. С.
Ильин, А. П.
Качак, В. В.
Кашкаров, П. К.
Клековкин, И. В.
Кононогов, С. В.
Коршунов, А. В.
Крутиков, В. Н.
Котюк, А. Ф.
Лахов, В. М.
Левин, А. Д.
Левин, Г. Г.
Лысенко, В. Г.
Лясковский, В. Л.
Мазуренко, С. Н.
Минаева, О. А.
Минаев, Р. В.
Морозова, С. П.
Новиков, Н. Ю.
Окрепилов, В. В.
Панкина, Г. В.
Панов, В. И.
Рукин, Е. М.
Савченко, А. Г.
Саприцкий, В. И.
Тодуа, П. А.
Толбанова, Л. О.
Федянин, А. А.
Хлевной, Б. Б.
Широков, С. С.
Шувалов, Г. В.
Элькин, Г. И.
Крутиков, В. Н.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)